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VEGA物位计产品分类
德国VEGA物位计说明:德国VEGA物位计，VEGA料位计，VEGA液位计
德国威格VEGA物位计 威格VEGA料位计 威格VEGA传感器 威格VEGA液位计 威格VEGA雷达液位计 
威格VEGA雷达物位计 威格VEGA物位开关 威格VEGA料位开关 威格VEGA超声波传感器 威格VEGA超声波物位计 
威格VEGA雷达料位计 威格VEGA雷达传感器 威格VEGA电容传感器 威格VEGA电容开关 威格VEGA微波传感器 
威格VEGA微波物位计 威格VEGA微波料位计 威格VEGA微波物位传感器 威格VEGA电极
 

雷达式物位测量仪表 
VEGA物位雷达式PULS61/62/63/65/66系列
液体或固体介质，特别适用于高温、高压、真空、粉尘、
蒸汽及测量腐蚀性*或混合度高的介质。
 

超声波式物位测量仪表 
VEGA超声波物位测量SON61/62/63系列
用于测量不同密度及表面特性的液体和固体介质，测量开
口明渠的流量和距离。

导向微波式物位测量仪表 
VEGA导向微波式物位测量FLEX61/62/63系列
对所有介质进预*要*预先进要先进行位式检测，这些介质必须能减弱或反射微
波。用来监控传送设备运转状况。

振动式物位测量仪表 
VEGA振动式固料式测量VIB61/63 
VEGA振动式位式测量SWING51/61/63
用于对液体和固体进预*要*预先进要先进行位式检测。测量结果不受被测介质
特性的影响，也不受容器内工况条件的影响。

电容式物位测量仪表
VEGA电容物位测量CAL62/63/64/65/66/67 
适用于各种介质包括腐蚀性介质及高温、高压的测量环境
VEGA静压式物位及压力测量WEL

VEGA物位产品
雷达式物位测量仪表 
VEGA物位雷达式PULS61/62/63/65/66系列
液体或固体介质，特别适用于高温、高压、真空、粉尘、
蒸汽及测量腐蚀性*或混合度高的介质

VEGAPULS 61
配有塑封天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量(K-频段)
特别适用于测量腐蚀性液体，或用于开口容器或渠道。

VEGA优势 
- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 
- 测量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用*模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列 
测量范围 达 20 米 
过程连接 G1 1/2A螺纹, 龙门框或法兰 
过程温度 -40 ... 80°C 
过程压力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa) 
测量精度 ±5 mm 
发射频率 K-频段
 
VEGAPULS 62
配有喇叭口天线、抛物线天线或?"- 导波管天线的雷达传感器，用于连续物位测量(K-频段)
适用于存储容器或过程容器，可以在恶劣条件下测量几乎所有介质。

VEGA优势 
- 非接触 式测量，不受过程温度、过程压力和过程气体的限制
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 
- 测量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用*模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列 
测量范围 达 35 米 
过程连接 螺纹或法兰 
过程温度 -40 ... 200°C 
过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa) 
测量精度 ±3 mm 
发射频率 K-频段 

液体或固体介质，特别适用于高温、高压、真空、粉尘、蒸汽及测量腐蚀性*或混合度高的介质。
VEGAPULS 61
配有塑封天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量(K-频段)
特别适用于测量腐蚀性液体，或用于开口容器或渠道。
优势 
- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 
- 测量精度 ±5 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用*模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列 
测量范围 达 20 米  
过程连接 G1 1/2A螺纹, 龙门框或法兰 
过程温度 -40 ... 80°C 
过程压力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)  
测量精度 ±5 mm  
发射频率 K-频段

VEGAPULS 62
配有喇叭口天线、抛物线天线或?"- 导波管天线的雷达传感器，用于连续物位测量(K-频段)
适用于存储容器或过程容器，可以在恶劣条件下测量几乎所有介质。
优势 
- 非接触是测量，不受过程温度、过程压力和过程气体的限制
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 
- 测量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用*模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列 
测量范围 达 35 米  
过程连接 螺纹或法兰 
过程温度 -40 ... 200°C 
过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)  
测量精度 ±3 mm  
发射频率 K-频段

VEGAPULS 63
配有塑封天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量 (K-频段)
特别适用于测量腐蚀性强的介质，或用于卫生无菌要求高的环境。
优势 
- 用于探测的材料只有一种
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 
- 测量精度 ±3 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用*模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列 
测量范围 达 20 米  
过程连接 法兰或卫生连接 
过程温度 -200…150°C 
过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)  
测量精度 ±3 mm  
发射频率 K-频段

VEGAPULS 65
配有棒式天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量 (C-频段)
特别适用于小的过程连接，在较为简单的过程条件下测量腐蚀性液体。
优势 
- 探头材料: PVDF 或 PTFE
- 可以测量至距离天线下缘100mm的地方
- 测量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用*模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列 
测量范围 达 35 米  
过程连接 G1 1/2A螺纹或法兰 
过程温度 -40 ... 150°C 
过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa)  
测量精度 ±10 mm  
发射频率 C-频段

VEGAPULS 66
配有喇叭口天线或2”导波管天线的雷达传感器，用于连续物位测量(C-频段)
特别适用于在复杂的过程条件下进预*要*预先进要先进行测量。
优势 
- 非接触是测量，不受过程温度、过程压力和过程气体的限制
- 可以测量至距离天线下缘100mm的地方
- 测量精度 ±10 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用*模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列 
测量范围 达 35 米  
过程连接 法兰 
过程温度 -40 ... 400°C 
过程压力 -1 … +160 bar (-100 … +16000 kPa)  
测量精度 ±10 mm  
发射频率 C-频段

VEGAPULS 67
配有塑封天线系统的雷达传感器，用于连续固料料位测量(K-频段)
特别适用于测量固体料位，料仓高度可达15米。
优势 
- 非接触式测量，不受粉尘和风送首*首先进入料的限制
- 测量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用*模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列 
测量范围 达 15 米  
过程连接 龙门框或锁紧法兰 
过程温度 -40 ... 80°C 
过程压力 -1 … +2 bar (-100 … +200 kPa)  
测量精度 ±15 mm  
发射频率 K-频段

VEGAPULS 68
配有喇叭口天线或抛物线天线的雷达传感器，用于连续测量固体料位 (K-频段)
特别适合测量固体料位，通过万向节可以调整天线方向，以适用于不用形状的料仓，并对准料面。
优势 
- 非接触式测量，不受粉尘和风送首*首先进入料的限制
- 测量精度 ±15 mm
- ECHOFOX-信号分析处理，采用*模糊逻辑
- 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试
- 属于plics产品系列 
测量范围 达70 米  
过程连接 G1 1/2A螺纹或法兰 
过程温度 -40 ... 200°C 
过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa)  
测量精度 ±15 mm  
发射频率 K-频段

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